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Bava Ottoboni Svelto - Fondamenti della misurazione di Progetto Leonardo

Bava Ottoboni Svelto - Fondamenti della misurazione
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Descrizione

Librerie di Milano

Ristampa 2009 - ISBN: 88-7488-092-8 Vol. in brossura 17 x 24 - Pag. 222 - Cod. 3379

La crescente importanza delle misure nel nostro tempo è testimoniata da una parte dal rilevante valore aggiunto che queste apportano ad ogni tipo di prodotto nella moderna economia, e dall'altra dalla constatazione che il progresso scientifico e tecnologico richiede lo sviluppo di riferimenti, di metodologie, e di tecniche di misura sempre più raffinate.

Il presente testo costituisce un riferimento aggiornato per lo studio degli aspetti connessi con i processi di misura e, in particolar modo, con l'analisi e rappresentazione dei risultati di una misurazione. Allo scopo è sembrato utile introdurre dapprima le "problematiche della metrologia e delle misure" in maniera del tutto generale; e quindi, dato che la stragrande maggioranza delle misure stesse si avvalgono oggi di strumenti e dispositivi elettronici, sono state introdotte le principali caratteristiche metrologiche dei "sistemi elettronici di misura". Un rilievo importante è stato poi dato sia all'approfondita analisi del "processo di qualificazione di una misura", alla luce delle più recenti raccomandazioni e norme internazionali, sia agli aspetti legati alla taratura e alla corretta gestione metrologica della strumentazione di misura. Il libro è diretto agli studenti delle facoltà scientifiche, con particolare attenzione a quelli delle facoltà di Ingegneria nelle aree elettrica ed elettronica o più in generale nei settori tecnologico-sperimentali. Nella stesura del testo ci si è sforzati di mantenere un linguaggio che, senza rinunciare a priori al rigore, rimanesse il più possibile semplice.

ELIO BAVA
è stato Professore Ordinario di Misure Elettroniche presso il Dipartimento di Elettronica e Informazione del Politecnico di Milano, ora è presso il Dipartimento di Elettronica del Politecnico di Torino. La sua attività di ricerca si è sviluppata principalmente nell'ambito della metrologia elettromagnetica, di tempo e di frequenza. Ha studiato e sviluppato campioni atomici di frequenza e sistemi di sintesi di frequenza dalle microonde fino allo spettro visibile ed è autore di numerose pubblicazioni scientifiche in questo ambito. è stato Chairman della Commission A (Electromagnetic Metrology) della Union Radioscientifique Internazionale (URSI). Già Presidente dell'IEN "Galileo Ferraris" di Torino, Presidente dell'Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica dal luglio 2005.

ROBERTO OTTOBONI
 è Professore Ordinario di Misure Elettriche I - Strumentazione Elettronica I presso il Dipartimento di Elettrotecnica del Politecnico di Milano. Nella sua attività di ricerca si è occupato prevalentemente delle problematiche e delle metodologie di misura basate sul campionamento dei segnali elettrici e nello studio e sviluppo di sensori e trasduttori per applicazioni industriali. è autore di numerose pubblicazioni scientifiche e di testi didattici nel settore delle misure elettriche ed elettroniche. è responsabile del settore grandezze elettriche del centro SIT del Politecnico di Milano.

CESARE SVELTO
è Professore Associato di Misure Elettroniche presso il Dipartimento di Elettronica e Informazione del Politecnico di Milano. La sua attività di ricerca si è sviluppata  negli ambiti dello sviluppo e caratterizzazione di sorgenti laser ultrastabili, progettazione e realizzazione di sistemi elettronici di misura, Particle Image Velocimetry, profilometria laser 3D, e sensori per applicazioni industriali. In questi ambiti è autore di oltre 150 pubblicazioni scientifiche internazionali e di alcuni libri a carattere didattico per insegnamenti universitari nell'area delle misure elettriche ed elettroniche. Nel 1997 ha vinto il Premio Philip Morris per la Ricerca Scientifica e Tecnologica.

 

Scheda Tecnica

Il volume è disponibile inoltre a Milano alle librerie:

  • Hoepli
  • Libreria CUSL (dentro al Politecnico)
  • Libreria Cortina (Via Botticelli)

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